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pairing and superconductivity in the negative-U Hubbard model別役 広
Physical Review B, 44(2), p.871 - 874, 1991/07
被引用回数：4 パーセンタイル：34.38(Materials Science, Multidisciplinary)電子が同一サイト上に来る時に引力が働くハバード模型では、対を形成することにより、基底状態は一重項になり、エネルギーにギャプが生じていることを明らかにした。この基底状態では、U(1)対称性が自発的に破れていて、これに伴う新しいボース粒子「粒子」が創られている。粒子のボース凝縮により形成される凝縮体は、超伝導の特徴である非対角長距離秩序(Off-Diagonal Long-Range Oder; ODLRO)を示す。この新しい機構に依る超伝導は次の様な特徴を有する。(1)超伝導を起こす対要素の大きさは0である。これに対して粒子自身は全空間に広がっている。(2)温度が上がると、熱的騒乱により基底凝縮体の位相に乱れが生じ、超伝導が消失する。(3)BCS的方程式から決まるギャプと転移温度の関係は
=4.0
T
である。(4)ギャプは電子-ホール対称性を有する。転移温度は、ホール濃度の小さい領域ではホール濃度に比例している。(5)粒子の熱的遙動により、常伝導状態の性質に異常が生じる。
野口 正安
Radioisotopes, (36), p.49 - 56, 1987/00
原子番号が1から92までの元素に対して、光エネルギーが10keVから10MeVの範囲で、光電効果、コンプトン散乱、コヒレント散乱、電子対生成の4種の相互作用断面積を計算する近似式を求めた。いくつかの例外を除いて、近似式による計算値は理論値とよく一致している。この近似式を用いることによって、元素組成あるいは重量比のわかった物質の質量滅弱係数を容易に求めることができる。
東條 隆夫; 近藤 眞
JAERI-M 7910, 28 Pages, 1978/10
中性子捕獲
線のスペクトロスコピを目的として、効率14.9%のGe検出器と直径および長さが8インチのアニュラス型NaI(Tl)検出器からなる検出器系を用いたペアおよびエスケープ抑制型線スペクトリメータを組立て、その特性を測定した。検出機器の特性として、i)Ge結晶外へ消滅光子が逃れる確率0.694
0.021、ii)Nal(Tl)の消滅光子に対する全検出効率74.53.7%が得られた。エスケープ抑制型スペクトロメータの特性として、i)シングル・エスケープ・ピーク抑制係数4.0、ii)ダブル・エスケープ・ピーク抑制係数12.9、が得られた。ペア・スペクトロメータの特性として、i)電子対生成の発生率11.6%をダブル・エスケープ・ピークとして検出できること、ii)2,4および6MeV線に対する相対効率(シングル・スペクトロメータの全吸収ピークに対する)として、2,17および40%が得られる、などが明らかになった。ペアおよびエスケープ抑制型スペクトロメータの低バックグランド性とスペクトルの単純化から、その有効性が明らかになった。
山本 涼平*; 杉田 健人*; 平 義隆*; 平出 哲也
no journal, ,
Age-Momentum Correlation(AMOC)は時間分解した陽電子消滅ガンマ線のドップラー広がりを捉えることができる。陽電子の状態によって異なる消滅率から陽電子が試料中の構造欠陥に捕獲されていることを知ることができ、その結果、欠陥周辺の不純物について時間分解したドップラー広がりから知ることができる。放射性同位体を陽電子源とした場合、厚さ数cmのバルク材料の深部の測定は不可能である。また、高圧や高温下での測定は難しい。そこで、UVSOR-IIIにおいて逆トムソン散乱ガンマ線を利用し、試料中で陽電子を生成する測定法であるGiAMOC(Gamma-ray induced AMOC)システムの開発を行った。また、開発した計測システムを利用し、陽電子寿命測定用標準物質の測定を行った。
平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 藤本 將輝*; 平出 哲也
no journal, ,
陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法(Gamma-ray induced positron annihilation spectroscopy: GiPAS)の開発とユーザー利用を推進している。GiPASは、物質に対する透過力の高いガンマ線を用いて対生成によって物質内部で陽電子を発生するため、厚さ数cmのバルク材料の陽電子消滅実験を非破壊で行うことができる。超短パルスガンマ線の発生、および、具体的な測定手法として陽電子寿命測定と寿命運動量相関測定に成功した。
平 義隆*; 藤本 將輝*; 岡野 泰彬*; 北浦 守*; 平出 哲也
no journal, ,
レーザートムソン/コンプトン散乱は、準単色で調整可能なエネルギー,高偏光,低発散角,低バックグラウンドなどの特徴を備えたガンマ線を生成する独自の手法である。レーザートムソン散乱ガンマ線は、いくつかの電子加速施設で開発されてきた。我々は放射光施設UVSOR-IIIで発生する超短パルスガンマ線を利用したGiPALSを開発した。ガンマ線は、750MeVの電子ビームとTi:Saレーザーの間の90度衝突によるレーザートムソン散乱によって生成される。ガンマ線のパルス幅は5ps(FWHM)と計算されている。現在、ガンマ線誘起陽電子消滅寿命分光法(GiPALS)のユーザー利用が始まっている。GiPALSに加えて、消滅ガンマ線の寿命とドップラー幅を同時に測定するガンマ線誘起陽電子寿命-運動量相関(GiAMOC)を開発している。超短パルスガンマ線の発生方法とGiPALS, GiAMOCの詳細を紹介する。
平 義隆*; 杉田 健人*; 山本 涼平*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也
no journal, ,
UVSOR-IIIにおいて、ガンマ線誘起陽電子消滅分光法を開発している。本手法では、従来の陽電子線源を用いた方法では測定が困難であった厚さ数cmのバルク試料全体の欠陥分析が可能となる。現在、陽電子寿命測定法のユーザー利用を展開し、それと並行して同時計数ドップラー拡がり法,寿命運動量相関測定法,スピン偏極陽電子分光法の開発を行っている。本討論会ではそれらの開発状況について述べる。
平 義隆*; 杉田 健人*; 山本 涼平*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也
no journal, ,
陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法(Gamma-ray induced positron annihilation spectroscopy: GiPAS)の開発とユーザー利用を推進している。GiPASは、物質に対する透過力の高いガンマ線を用いて対生成によって物質内部で陽電子を発生するため、厚さ数cmのバルク材料の陽電子消滅実験を非破壊で行うことができる。また、外部からガンマ線を試料に照射するために高温,高圧,液浸などの環境下での測定も行える。超短パルスガンマ線の発生、および、具体的な測定手法として陽電子寿命測定と寿命運動量相関測定の開発状況について報告する。
山本 涼平*; 平 義隆*; 杉田 健人*; 平出 哲也; 高嶋 圭史*; 加藤 政博*
no journal, ,
陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法(Gamma-ray induced positron annihilation spectroscopy: GiPAS)の開発を行っている。具体的な測定手法として陽電子寿命測定と寿命運動量相関測定に成功しており、今回、ひずみを入れた鉄鋼材料の寿命運動量相関測定において、欠陥捕獲される過程の検出に成功した。
平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也
no journal, ,
超短パルスガンマ線を陽電子消滅分光法(PAS)に適用した。ガンマ線誘起PAS(GiPAS)と呼ばれる高エネルギーガンマ線を使用するPASには、放射性同位元素を使用するPASと比較していくつかの利点がある。(i)陽電子は、材料への透過性が高いガンマ線の照射による対生成によってバルク材料全体に生成されるため、数センチメートルの厚い材料の欠陥分析が可能になる。(ii)密封線源の被覆材料で消滅した陽電子の寄与がないため、データ分析が簡単かつ正確になる。
平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也
no journal, ,
陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法の開発を行っている。具体的には、陽電子消滅寿命(PAL)測定と寿命運動量相関(AMOC)測定に成功している。PALでは試料のみのスペクトルを直接測定することに成功している。また、AMOCにおいても、欠陥の状態の異なる試料において、試料中のみの陽電子消滅について、異なる状態から消滅していく運動量分布を捕えることに成功した。現在、同時計数ドップラー広がり(CDB)測定も実現しており、新規開発する解析プログラムによって、試料内部での陽電子消滅のみのCDBスペクトルが得られる予定である。
平 義隆*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也
no journal, ,
BL1Uは、新規光源開発と利用方法の開拓に関する研究を行っているビームラインである。タンデムアンジュレータを用いた紫外光の発生と利用研究に加えて、波長800nmのTi:Saレーザーを用いた6.6MeV超短パルスガンマ線の発生とガンマ線誘起陽電子消滅分光法(GiPALS)の利用研究を行っている。GiPALSは、消滅ガンマ線の放出時間分布を測定する事で陽電子の寿命を測定する手法であり、試料内部の欠陥の種類や大きさを分析できる。GiPALSはユーザー利用が可能であり、応力負荷時の金属材料の欠陥形成のその場測定に加えて、鉄系材料、触媒材料、シンチレータなどのバルク試料の測定が行われている。
